Kaufen Texas Instruments SN74LVTH182502APMR IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP

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Datenblätter

SN74LVTH182502APMR

IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP

Artikelnummer

SN74LVTH182502APMR

Hersteller/Marke

Texas Instruments

Serie

74LVTH

Teilestatus

Active

Verpackung

Cut Tape (CT)

Betriebstemperatur

-40°C ~ 85°C

Befestigungsart

Surface Mount

Paket/Koffer

64-LQFP

Gerätepaket des Lieferanten

64-LQFP (10x10)

Versorgungsspannung

2.7 V ~ 3.6 V

Anzahl der Bits

Logiktyp

ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

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