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SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Artikelnummer
SN74BCT8374ANTG4
Hersteller/Marke
Serie
74BCT
Teilestatus
Obsolete
Verpackung
Tube
Betriebstemperatur
0°C ~ 70°C
Befestigungsart
Through Hole
Paket/Koffer
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Gerätepaket des Lieferanten
24-PDIP
Versorgungsspannung
4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits
8
Logiktyp
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
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