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SN74BCT8374ADWR
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Artikelnummer
SN74BCT8374ADWR
Hersteller/Marke
Serie
74BCT
Teilestatus
Obsolete
Verpackung
Tape & Reel (TR)
Betriebstemperatur
0°C ~ 70°C
Befestigungsart
Surface Mount
Paket/Koffer
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Gerätepaket des Lieferanten
24-SOIC
Versorgungsspannung
4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits
8
Logiktyp
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
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