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SN74ABT18245ADLR

SN74ABT18245ADLR

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Artikelnummer
SN74ABT18245ADLR
Hersteller/Marke
Serie
74ABT
Teilestatus
Active
Verpackung
Tape & Reel (TR)
Betriebstemperatur
-40°C ~ 85°C
Befestigungsart
Surface Mount
Paket/Koffer
56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Gerätepaket des Lieferanten
56-SSOP
Versorgungsspannung
4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits
18
Logiktyp
Scan Test Device with Bus Transceivers
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